科技日报记者 都芃
随着AI应用从云端数据中心向手机、个人电脑、智能汽车等终端延展，存储产品的可靠性直接影响用户对开机速度、运行流畅度与数据安全的体验。存储检测环节连接研发验证与规模量产，其自动化水平直接影响交付效率与质量一致性。
不久前，由深圳市存储器行业协会与北京大学集成电路学院联合主办的第五届全球存储器行业创新峰会（GMIF 2026）在深圳举办，吸引摩根士丹利、三星半导体、闪迪等数十家全球头部企业与机构参与，集中呈现300余项创新成果，覆盖存储晶圆、主控芯片、封测、设备材料与AI应用等环节。
会议举办期间，GMIF 2026年度大奖正式公布，深圳市金胜电子科技有限公司凭借研制的ZD102内存条自动化测试设备获评“存储测试技术创新贡献奖”。
该企业负责人介绍，ZD102面向内存条生产厂商与研发机构，支持UDIMM DDR4自动化测试，单批次可并行测试60片产品。设备通过PLC（可编程逻辑控制器）统一控制实现多工位协同，测试报告可自动生成并同步至MES（制造执行系统），用于数据全过程追溯。
目前，金胜电子科技围绕存储产品与测试设备研发、制造，已形成配套能力，建成广东省高可靠工业宽温固态硬盘工程技术研究中心，实现从方案设计、评估、验证、测试到量产的全流程管控。未来，随着AI服务器与边缘终端对存储容量、可靠性要求的提升，测试环节在存储产品规模化生产中的作用有望进一步凸显。
（受访单位供图）
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